Agilent3070測試設(shè)備測試方法介紹  http://www.hysm66.cn    

一般來說，在線測試方法分為兩大類：

  (1)非加電測試（unpowered test），也稱非矢量測試（vectorless test）。
  (2)加電測試（powered test），也稱非矢量測試（vector test）。

  非加電測試一般用來測試開路（OPEN），短路（SHORT），模擬元器件（ANALOG COMPONET），連接性（CONTINUITY），極性測試（POLARITY），方向測試（ORIENTATION）等等。
  
  加電測試一般用來測試模擬集成電路（ANALOG IC），數(shù)字集成電路（DIGITAL IC），混合集成電路 （MIXED/HYBRID IC），邊界掃描（BOUNDARY SCAN），在線燒錄ISP（IN SYSTEM PROGRAMMING）。

  AGILENT3070非加電測試方法：

  （1）SHORTS TEST        -- 測試PCBA的開短路。
  （2）PINS TEST          -- 測試PCBA和FIXTURE（夾具）之間連接性[不用來對PCBA進行測試]。
  （3）ANALOG TEST        -- 模擬測試（主要用來測試電阻，電容等模擬元件）。
  （4）TESTJET TEST       -- 測試器件的連接性及方向。
  （5）POLARITY TSET      -- 測試器件的極性。
  （6）CONNECT CHECK      -- 測試器件的連接性及方向，也TESTJET形成互補測試方法。
  （7）DRIVE THROUGH      -- 與TESTJET測試結(jié)合，解決LIMITED ACCESS PROBLEMS。
  （8）UNPOWED CLUSTER    -- 非矢量群測試庫，解決LIMITED ACCESS PROBLEMS。

AGILENT3070加電測試方法：

  （1）BOUNDARY SCAN TEST -- 邊界掃描測試。
  （2）DIGITAL TEST       -- 數(shù)字測試。
  （3）DIGITAL FUNCTIONAL -- 數(shù)字功能測試。
  （4）ANALOG FUNCTIONAL  -- 模擬功能測試（模擬加電測試）。
  （5）MIXED TEST         -- 混合測試。
  （6）POWERED CLUSTER    -- 矢量群測試庫，解決LIMITED ACCESS PROBLEMS。

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