不過STE很常見，尤其是對特定程序如模塊測試，但也應該仔細研究ATE帶來的其它方案，尤其是那些具有開放架構優(yōu)點可能改變這一趨勢的系統(tǒng)，內部測試資源更應該專用于生成測試方案，和設計專門測試平臺相比這些資源具有更為獨特的技能與知識。

　　自動測試設備(ATE)　　通用自動測試設備(GPATE，或簡稱為ATE)是一種非常先進靈活的方案，可以滿足多種產品與程序測試要求，從最初出現(xiàn)迄今已有三十多年歷史。當微型計算機控制的儀器出現(xiàn)以后，ATE的結構設計為直接針對測試需要，系統(tǒng)集成、信號連通靈活性、增值軟硬件、面向測試的語言、圖形用戶界面等是ATE，比如SEICA的VALIDS40功能測試平臺，和STE之間的主要區(qū)別。

　　泰瑞達公司創(chuàng)始人Alexd’Arbeloff在2002年10月國際測試大會的主題演講中，對廣泛采用開放架構趨勢提出批評，認為它只是簡單將不同模塊加在一起然后用于所有測試提供商的標準機架上。他說：“這種方法對ATE業(yè)界沒有什么好處，測試設備用戶所得到的只是來自于ATE供應商提供的系統(tǒng)集成，否則用戶就得自己做或者要另外付費。”實際上，基于專用技術硬軟件架構同時也通過向第三方儀器供應商與標準開放，這種滿足開放架構的優(yōu)點將很可能成為廠商最佳選擇。

　　讓我們仔細看一看現(xiàn)代ATE的架構并探討其優(yōu)點。

　　FCT測試架ATE是一種商用系統(tǒng)，有很多公司都提供這類設備，雖然它和普通設備如在線測試儀或MDA不一樣。功能測試更為復雜，需要有實力的供應商的經驗和認真投入?？梢栽谑袌錾腺徺I(有時又稱為COTS)有很多優(yōu)點，它使ATE能充分利用供應商多年的經驗以及NRE投資，這對于ATE供應商提供創(chuàng)新新技術同時又保持現(xiàn)有特性特別有意義。它對軍事/航空產品非常重要，因為這類產品具有較長生命周期，且有很多新舊產品并存同時都要不斷進行測試，比如ATE經過改進可以為低電平器件進行可重復測試，但同時舊的CMOS電平測試仍然需要提供。另一個例子與用于診斷的指引探測技術有關，該技術幾乎不能用于某些新封裝技術，但你是否會買一個不帶這種功能的測試儀呢？